质量与可靠性

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可靠性介绍

可靠性（Reliability）是对器件耐久力的描述，j9九游会官方主要以JESD47为测试大纲，通过不同针对性的试验对器件进行测试考核，其可包括：

晶圆工艺相关的可靠性（HCI、BTI、TDDB、GOI、EM、SM……）
电路相关的可靠性(ESD、Latch-up、HTOL、LTOL……)
封装相关的可靠性(PC、TCT、HTSL、(u)HAST……)
板级相关的可靠性（BTC……）

这些测试条件远比应用场景严苛，通过激发潜在的半导体晶圆和封装的薄弱点，用于剔除器件早期缺陷、检验器件可靠性指标、评估器件寿命、加强器件可靠性水平。试验数据会被收集以说明器件可靠性，同时对不合格品的每一个故障的原因进行细致地分析，采取有效的纠正措施进行闭环。

j9九游会官方目前主要参考的规范如下（编号最新版本请查阅JEDEC官方网站）:

序号	标准编号	标准状态	标准项目
1	JESD22-A113	现行	IC 集成电路压力测试考核
2	JESD22-A113	现行	塑封表贴器件可靠性试验前的预处理
3	JESD22-A100	现行	循环温湿度偏置寿命
4	JESD22-A101	现行	稳态温湿度偏置寿命
5	JESD22-A102	现行	加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮
6	JESD22-A103	现行	高温贮存寿命
7	JESD22-A104	现行	温度循环
8	JESD22-A106	现行	热冲击
9	JESD22-A110	现行	高加速温湿度应力试验（HAST）（有偏置电压未饱和高压蒸汽）
10	JESD22-A118	现行	加速水汽抵抗性——无偏压HAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）
11	J-STD-002D	现行	可焊性
12	JESD22-B115	现行	焊球拉脱试验
13	JESD22-B116	现行	引线键合的剪切试验
14	JESD22-B117	现行	焊球剪切
15	JESD78	现行	闩锁测试
16	JESD22- A108	现行	温度、偏置度和使用寿命
17	JS-001	现行	静电放电灵敏度试验人体模型(HBM)
18	JS-002	现行	静电放电灵敏度试验器件充放电模型(CDM)
19	J-STD-020	现行	非密封表面贴装设备的湿度/回流灵敏度分级
20	JEDEC-SPP-024	现行	球栅阵列封装的回流平整度要求
21	JESD89-3	现行	高能光束加速软失效测试要求
22	JESD85	现行	计算器件故障率方法

器件寿命

器件寿命是指器件在符合规定的应力环境下，各性能指标或验收要求符合产品规格书的使用时间。通常一个器件的最薄弱部分决定了其寿命。当器件失效率分布符合威布尔函数时，定义一个器件累计失效率在63.2%之下的时间作为该器件的特征寿命。中国-九游·会J9官方网站|真人游戏第一品牌用特征寿命曲线（浴缸曲线）来表示，其由以下三部分组成：

第一部分随时间递减的失效率，称之为早夭（early failure）。
第二部分近似固定的失效率，称为随机失效（random failure）。
第三部分为超过其设计寿命后，随时间递增的失效率，称为耗损失效（wear out）。

中国-九游·会J9官方网站|真人游戏第一品牌采用多种方法确保产品符合严格的质量和可靠性目标。可靠性是中国-九游·会J9官方网站|真人游戏第一品牌确保产品整体性能质量的基石，中国-九游·会J9官方网站|真人游戏第一品牌在新产品、新工艺、新封装的研发阶段执行了大量的可靠性测试，并持续监控它们的可靠性，因此具备业界领先的FIT（寿命内故障）比率。
j9九游会官方通过 JESD85 （Methods for Calculating Failure Rates in Units of FITs）来统一衡量产品的失效。

其计算描述如下：

j9九游会官方通过以上器件能够承受的一套通用可接受的压力测试标准，评估器件在不同工作环境中使用的可靠性，以确保应用环境下良好的可靠性表现。

可靠性数据

j9九游会官方有极为可靠的监管和预防计划，可确保j9九游会官方发出的所有产品都具有最佳质量。j9九游会官方利用一流的设备和技术，对每一项工艺执行所有主要类型的可靠性测试。加速环境压力测试的结果可外推至标准工作条件，预测有效产品寿命并确保中国-九游·会J9官方网站|真人游戏第一品牌的产品具有业界最高的可靠性等级。

如需获得详细的可靠性数据，请联系销售或者经销商。